Главная    Почта    Новости    Каталог    Одноклассники    Погода    Работа    Игры     Рефераты     Карты
  
по Казнету new!
по каталогу
в рефератах

Физика микромира

  одном  из
приборов  такого  типа  скорость  анализа  по  одному  химическому  элементу
соответствует движению зонда 8 или 96 мкм/мин (при механическом  перемещении
объекта). Анализировать можно все элементы периодической  системы  элементов
Менделеева, легких  (от  атомного  номера  11  -  натрия).минимальный  объем
вещества,  поддающегося  количественному  анализу,  составляет  0,1  мкг.  С
помощью  микрорентгеновского  анализатора  получают  распределение   физико-
химического состава вдоль исследуемой поверхности.
      В СССР серийно выпускается (выпускался) микрорентгеновский  анализатор
типа МАР-1 (диаметр зонда около  1  мкм,  наименьшая  анализируемая  площадь
1мкм(2).   Приборы   такого   вида   находят   применение   в    электронной
промышленности и в других областях науки и техники.
       Читатель, видимо, обратил внимание на тот  факт,  что  в  электронных
микроскопах  не   достигается   разрешающая   способность,   предсказываемая
теорией.  В  чем  же  дело?  Вспомним,  что  в  формировании  изображения  в
электронных микроскопах важную  роль  играют  элементы  электронной  оптики,
позволяющие осуществлять управление электронными пучками. Этим  элементам  —
электронным линзам свойственны  различного  рода  отклонения  от  идеального
(требуемого  расчетом)  распределения  электрических  и   магнитных   полей.
Положение здесь во многом аналогично ограничениям в оптической  микроскопии,
связанным с  неточностью  изготовления  оптических  линз,  зеркал  и  других
элементов. Кроме того, ряд трудностей связан с особенностями изготовления  и
работы  источников  электронных  потоков  (катодов),  а  также  с  проблемой
создания потоков, в  которых  электроны  мало  отличаются  по  скоростям.  В
соответствии с этими фактами, действующими в  реальных  условиях,  различают
определённые виды искажений в электронных микроскопах,  используя  при  этом
терминологию, заимствованную из световой оптики.
       Основными  видами  искажений  электронных   линз   в   просвечивающих
микроскопах  являются  сферическая  и  хроматическая  аберрации,   а   также
дифракция  и  приосевой  астигматизм.  Не  останавливаясь  на  происхождении
различных  видов  искажений,  связанных  с  нарушениями  симметрии  полей  и
взаимным  расположением  элементов  электронной  оптики,  упомянем  лишь   о
хроматической аберрации. Последний вид  искажений  аналогичен  возникновению
окрашенных  изображений  в   простых   биноклях   и   лупах.   Использование
спектрально  чистого  монохроматического  света  в  оптике  (вместо  белого)
устраняет этот вид искажений. Аналогично  этому  в  электронной  микроскопии
используют по возможности  пучки  электронов,  скорости  которых  отличаются
мало  (вспомним  соотношение  (=h/(m(v)  для  электрона!).  Этого  достигают
применением высокостабильных источников электрического питания.
        Близким    «родственником»    электронного    микроскопа    является
электронограф (  прибор,  использующий  явление  дифракции  электронов,  той
самой дифракции, которая в своё время подтвердила наличие  волновых  свойств
у  электронов  и  ставит  в  наши  дни  предел  разрешения   в   электронном
микроскопе. В случае  электронов  объектами,  в  которых  может  происходить
дифракция на периодической  структуре  (аналогичной  объёмной  дифракционной
решётке  в  оптике),  служат  кристаллические  структуры.  Известно,  что  в
кристаллах  атомы  расположены   в   строгом   геометрическом   порядке   на
расстояниях порядка единиц ангстрем. Особенно правильно это  расположение  в
так  называемых  монокристаллах.  При  взаимодействии  электронов  с  такими
структурами возникает рассеяние электронов в  преимущественных  направлениях
в  соответствии  с  предсказываемыми  теорией   соотношениями.   Регистрируя
рассеянные электроны (например, фотографируя их), можно получать  информацию
об  атомной  структуре  вещества.  В  современных  условиях  электронография
широко применяется  при  исследованиях  не  только  твёрдых,  но  и  жидких,
газообразных  тел.  О  виде  получаемых  электронограмм  можно   судить   по
фотографиям (см. рис.6).
      Рис. 6. Электорнограмма высокого разрешения (окись цинка):
вверху ( электронограмма; внизу ( увеличенное изображение участка А.
       В  нашей  стране  и   за   рубежом   применяются   специализированные
электронографы промышленного  типа.  Кроме  того,  в  некоторых  электронных
микроскопах предусмотрена возможность работы в режиме электронографии.
      Следует заметить, что с точки зрения физики  получение  электронограмм
представляет  собой  процесс,   во   многом   близкий   процессу   получению
рентгенограмм  в  рентгеноструктурном   анализе.   Действительно,   если   в
электрографии используется дифракция электронов,  то  в  рентгеноструктурном
анализе происходит дифракция  рентгеновских  лучей  на  атомных  структурах.
Естественно, что каждый из этих методов имеет свою область применения.
                Особенности работы с электронным микроскопом.
       Остановимся  кратко  на  основных  приемах   работы   в   электронной
микроскопии. Естественно, что эти приемы  своеобразны,  учитывая  сверхмалые
размеры объектов, подлежащих исследованию. Так,  например,  в  биологических
исследованиях   находят   применения   «сверхтонкие   ножи»   -   микротомы,
позволяющие получать срезы биологических объектов толщиной менее 1 мкм.
      Главные  особенности  методики  электронной  микроскопии  определяются
необходимостью помещения объекта исследования  внутрь  колонны  электронного
микроскопа, т.е. в вакуум и обеспечения условий  высокой  чистоты,  так  как
малейшие   загрязнения   могут   существенно   исказить   результаты.    Для
просвечивающего электронного микроскопа объект приготовляется в виде  тонких
пленок, в качестве  которых  могут  служить  различного  рода  лаки,  пленки
металлов и полупроводников,  ультратонкие  срезы  биологических  препаратов.
Кроме  того,  объектами   исследования   могут   быть   тонко   измельченные
(диспергированные)   совокупности   частиц.    Обычно    в    просвечивающих
микроскопах, работающих при  напряжениях  50-100  кв,  толщина  объектов  не
может  превышать  200  А((для  неорганических  веществ)  и  1000   А(   (для
органических).  Биологические  объекты  в  большинстве  случаев   приходится
контрастировать,  т.е.  «окрашивать»  (солями  тяжелых  металлов),  оттенять
напылением металлов (платиной, палладием и др.) и  использовать  ряд  других
приемов.  Необходимость  контрастирования  вызвана  тем,   что   большинство
биологических объектов содержит атомы  легких  элементов  (с  малым  атомным
номером) - водород, углерод, азот, кислород, фосфор и т.д.  в  то  же  время
толщина объектов, интересных для биологии и  медицины,  составляет  величину
порядка  50  А(.  Без   контрастирования   при   электронно-микроскопических
исследованиях  вирусов  наблюдаются  бесструктурные   пятна,   а   отдельные
молекулы  нуклеиновых  кислот  вообще  неразличимы.  Использование   методов
контрастирования позволяет эффективно применить  электронную  микроскопию  в
биологических исследованиях и в том числе при исследованиях больших  молекул
(макромолекул) ( см., например, рис. 7.
      Рис. 7. РНК из вируса табачной мозаики (из  раствора  с  ионной  силой
0,0003 мкм).
      В ряде  случаев  при  исследовании,  например,  массивных  объектов  в
технике широкое  применение  находит  метод  получения  отпечатков,  который
заключается в изготовлении и последующем  исследовании  в  микроскопе  копий
поверхностей объектов.
      Используются как естественные отпечатки (тонкие слои окислов),  так  и
искусственные, получаемые  путем  нанесения  (напыления,  осаждения)  пленок
кварца,  углерода  и  других  веществ.  Наибольшее  разрешение  (  (10   А()
позволяют получить угольные реплики, которые находят широкое применение  как
в технике, так и в биологии.
      При наблюдении электронно-микроскопическими методами влажных  объектов
( в том числе  живых  клеток)  используются  вакуумно-изолированные  газовые
микрокамеры. Объекты исследования помещаются в  электронных  микроскопах  на
тончайшие пленки  -   подложки,  которые  крепятся  на  специальных  сетках,
изготовляемых обычно из меди электролитическим способом. Эти  пленки  должны
удовлетворять  целому  ряду  требований,  поскольку   относительно   большая
толщина их, а также сильное рассеяние  ими  электронов  приводят  к  резкому
ухудшению качества изображения объекта. Кроме того,  материал  таких  пленок
должен  обладать  хорошей   теплопроводностью   и   высокой   стойкостью   к
электронной бомбардировке.
      Кстати,  об  электронной  бомбардировке  объекта  исследования  и   ее
последствиях. При попадании  электронов  на  объект  они  выделяют  энергию,
примерно  равную  кинетической  энергии  их  движения.  В  результате  могут
происходить местный разогрев и разрушение участков объекта.
      Электронный микроскоп часто используется для микрохимического  анализа
исследуемого вещества согласно методу, предложенному М. И. Земляновой  и  Ю.
М. Кушниром. По  существу  этот  метод  аналогичен  методу  микрохимического
анализа с  помощью  оптического  микроскопа.  В  данном  случае  электронный
микроскоп используется в качестве устройства,  способного  обнаружить  малые
количества искомого вещества (по форме и структуре кристаллов  и  т.п.).  на
поверхность водного  раствора,  в  котором  предполагается  наличие  искомых
ионов, наносится капля 1  —  1,5%  раствора  нитроклетчатки  в  амилацетате.
Капля растекается по поверхности жидкости и образует коллодиевую пленку,  на
которую наносится капля реагента.  Ионы  реагента  проникают  (диффундируют)
сквозь пленку и, взаимодействуя с раствором, образуют на поверхности  пленки
кристаллы, которые содержат ионы, подлежащие обнаружению. После  специальной
очистки кусочек пленки с криста
Пред.67
скачать работу

Физика микромира

 

Отправка СМС бесплатно

На правах рекламы


ZERO.kz
 
Модератор сайта RESURS.KZ