Главная    Почта    Новости    Каталог    Одноклассники    Погода    Работа    Игры     Рефераты     Карты
  
по Казнету new!
по каталогу
в рефератах

Архитектура Flash-памяти

     больших объёмах производства).

      2. Высокая скорость доступа к ячейке памяти.

      3. Высокая надёжность готовой микросхемы и устойчивость к
      электромагнитным полям.

      Недостатки:

      1. Невозможность записывать и модифицировать данные после
      изготовления.

      2. Сложный производственный цикл.

    . PROM - (Programmable ROM), или однократно Программируемые ПЗУ. В
      качестве ячеек памяти в данном типе памяти использовались плавкие
      перемычки. В отличие от Mask-ROM, в PROM появилась возможность
      кодировать ("пережигать") ячейки при наличии специального устройства
      для записи (программатора). Программирование ячейки в PROM
      осуществляется разрушением ("прожигом") плавкой перемычки путём подачи
      тока высокого напряжения. Возможность самостоятельной записи
      информации в них сделало их пригодными для штучного и мелкосерийного
      производства. PROM практически полностью вышел из употребления в конце
      80-х годов.

      Преимущества:

      1. Высокая надёжность готовой микросхемы и устойчивость к
      электромагнитным полям.

      2. Возможность программировать готовую микросхему, что удобно для
      штучного и мелкосерийного производства.

      3. Высокая скорость доступа к ячейке памяти.

      Недостатки:

      1. Невозможность перезаписи

      2. Большой процент брака

      3. Необходимость специальной длительной термической тренировки, без
      которой надежность хранения данных была невысокой
NVRWM:
    . EPROM

      Различные источники по-разному расшифровывают аббревиатуру EPROM - как
      Erasable Programmable ROM или как Electrically Programmable ROM
      (стираемые программируемые ПЗУ или электрически программируемые ПЗУ).
      В EPROM перед записью необходимо произвести стирание (соответственно
      появилась возможность перезаписывать содержимое памяти). Стирание
      ячеек EPROM выполняется сразу для всей микросхемы посредством
      облучения чипа ультрафиолетовыми или рентгеновскими лучами в течение
      нескольких минут. Микросхемы, стирание которых производится путем
      засвечивания ультрафиолетом, были разработаны Intel в 1971 году, и
      носят название UV-EPROM (приставка UV (Ultraviolet) - ультрафиолет).
      Они содержат окошки из кварцевого стекла, которые по окончании
      процесса стирания заклеивают.

      Достоинство: Возможность перезаписывать содержимое микросхемы

      Недостатки:

      1. Небольшое количество циклов перезаписи.

      2. Невозможность модификации части хранимых данных.

      3. Высокая вероятность "недотереть" (что в конечном итоге приведет к
      сбоям) или передержать микросхему под УФ-светом (т.н. overerase -
      эффект избыточного удаления, "пережигание"), что может уменьшить срок
      службы микросхемы и даже привести к её полной негодности.

    . EEPROM (EEPROM или Electronically EPROM) - электрически стираемые ППЗУ
      были разработаны в 1979 году в той же Intel. В 1983 году вышел первый
      16Кбит образец, изготовленный на основе FLOTOX-транзисторов (Floating
      Gate Tunnel-OXide - "плавающий" затвор с туннелированием в окисле).


      Главной отличительной особенностью EEPROM (в т.ч. Flash) от ранее
      рассмотренных нами типов энергонезависимой памяти является возможность
      перепрограммирования при подключении к стандартной системной шине
      микропроцессорного устройства. В EEPROM появилась возможность
      производить стирание отдельной ячейки при помощи электрического тока.
      Для EEPROM стирание каждой ячейки выполняется автоматически при записи
      в нее новой информации, т.е. можно изменить данные в любой ячейке, не
      затрагивая остальные. Процедура стирания обычно существенно длительнее
      процедуры записи.

      Преимущества EEPROM по сравнению с EPROM:

      1. Увеличенный ресурс работы.

      2. Проще в обращении.

      Недостаток: Высокая стоимость

    . Flash (полное историческое название Flash Erase EEPROM):


      Изобретение флэш-памяти зачастую незаслуженно приписывают Intel,
      называя при этом 1988 год. На самом деле память впервые была
      разработана компанией Toshiba в 1984 году, и уже на следующий год было
      начато производство 256Кбит микросхем flash-памяти в промышленных
      масштабах. В 1988 году Intel разработала собственный вариант флэш-
      памяти.

      Во флэш-памяти используется несколько отличный от EEPROM тип ячейки-
      транзистора. Технологически флэш-память родственна как EPROM, так и
      EEPROM. Основное отличие флэш-памяти от EEPROM заключается в том, что
      стирание содержимого ячеек выполняется либо для всей микросхемы, либо
      для определённого блока (кластера, кадра или страницы). Обычный размер
      такого блока составляет 256 или 512 байт, однако в некоторых видах
      флэш-памяти объём блока может достигать 256КБ. Следует заметить, что
      существуют микросхемы, позволяющие работать с блоками разных размеров
      (для оптимизации быстродействия). Стирать можно как блок, так и
      содержимое всей микросхемы сразу. Таким образом, в общем случае, для
      того, чтобы изменить один байт, сначала в буфер считывается весь блок,
      где содержится подлежащий изменению байт, стирается содержимое блока,
      изменяется значение байта в буфере, после чего производится запись
      измененного в буфере блока. Такая схема существенно снижает скорость
      записи небольших объёмов данных в произвольные области памяти, однако
      значительно увеличивает быстродействие при последовательной записи
      данных большими порциями.

      Преимущества флэш-памяти по сравнению с EEPROM:

      1. Более высокая скорость записи при последовательном доступе за счёт
      того, что стирание информации во флэш производится блоками.

      2. Себестоимость производства флэш-памяти ниже за счёт более простой
      организации.

      Недостаток: Медленная запись в произвольные участки памяти.
|                 |
3.Организация flash-памяти

Ячейки флэш-памяти бывают как на одном, так и на двух транзисторах.
В простейшем случае каждая ячейка хранит один бит информации и состоит из
одного полевого транзистора со специальной электрически изолированной
областью ("плавающим" затвором - floating gate), способной хранить заряд
многие годы. Наличие или отсутствие заряда кодирует один бит информации.
При записи заряд помещается на плавающий затвор одним из двух способов
(зависит от типа ячейки): методом инжекции "горячих" электронов или методом
туннелирования электронов. Стирание содержимого ячейки (снятие заряда с
"плавающего" затвора) производится методом тунеллирования.
Как правило, наличие заряда на транзисторе понимается как логический "0", а
его отсутствие - как логическая "1". Современная флэш-память обычно
изготавливается по 0,13- и 0,18-микронному техпроцессу.
Общий принцип работы ячейки флэш-памяти.
Рассмотрим простейшую ячейку флэш-памяти на одном n-p-n транзисторе. Ячейки
подобного типа чаще всего применялись во flash-памяти с NOR архитектурой, а
также в микросхемах EPROM. Поведение транзистора зависит от количества
электронов на "плавающем" затворе. "Плавающий" затвор играет ту же роль,
что и конденсатор в DRAM, т. е. хранит запрограммированное значение.
Помещение заряда на "плавающий" затвор в такой ячейке производится методом
инжекции "горячих" электронов (CHE - channel hot electrons), а снятие
заряда осуществляется методом квантомеханического туннелирования Фаулера-
Нордхейма (Fowler-Nordheim [FN]).
|[pic]                              |При чтении, в отсутствие заряда на  |
|                                   |"плавающем" затворе, под            |
|                                   |воздействием положительного поля на |
|                                   |управляющем затворе, образуется     |
|                                   |n-канал в подложке между истоком и  |
|                                   |стоком, и возникает ток.            |
|[pic]                              |Наличие заряда на "плавающем"       |
|                                   |затворе меняет вольт-амперные       |
|                                   |характеристики транзистора таким    |
|                                   |образом, что при обычном для чтения |
|                                   |напряжении канал не появляется, и   |
|                                   |тока между истоком и стоком не      |
|                                   |возникает.                          |
|[pic]                              |При программировании на сток и      |
|                                   |управляющий затвор подаётся высокое |
|                                   |напряжение (причём на управляющий   |
|                                   |затвор напряжение подаётся          |
|                                   |приблизительно в два раза выше).    |
|                                   |"Горячие" электроны из канала       |
|                                   |инжектируются на плавающий затвор и |
|                                   |изменяют вольт-амперные             |
|                                   |характеристики транзистора. Такие   |
|                                   |электроны называют "горячими" за то,|
|                                   |что обладают высокой энергией,      |
|                                   |достаточной для преодоления         |
|                                   |потенциального барьера, создаваемого|
|                                   |тонкой плёнкой диэлектрика.         |
|[pic]                              |При стирании высокое напряжение     |
|                                   |подаё
12345След.
скачать работу

Архитектура Flash-памяти

 

Отправка СМС бесплатно

На правах рекламы


ZERO.kz
 
Модератор сайта RESURS.KZ