Главная    Почта    Новости    Каталог    Одноклассники    Погода    Работа    Игры     Рефераты     Карты
  
по Казнету new!
по каталогу
в рефератах

Оптические инструменты, вооружающие глаз

ли  приготовлены
10 образцов порошков (по пять каждой разности). Образцы галита  дробились  и
измельчались в яшмовой  ступке  так,  как  это  делалось  для  приготовления
образцов  для  полуколичественного  спектрального   анализа.   Рентгеновские
диффрактограммы получены в лаборатории структурного анализа Г.Каблисом.
    При  помощи  рентгеновского  излучения  CuKa  (1,54нм)  были   получены
обзорные рентгенограммы и детальная форма рефлекса (200). На обзорных



рентгенограммах различие наблюдается между синей и бесцветной  солью  только
в интенсивности пиков (у синей соли главный максимум на 3,5 % больше  чем  у
бесцветной  при  том   же   положении).   На   рис.3   приводится   обзорная
рентгенограмма бесцветного образца галита (у других образцов  рентгенограммы
сходны с приведенной).
    Определение  параметра  элементарной  ячейки  произведено  по  рефлексу
(200). Условия при  которых  наблюдаются  дифракционные  рефлексы,  задается
законом Вульфа-Брегга:
                                    [pic]                              (3.1)
где d - межплоскостное расстояние, Q - угол дифракционного  максимума,  l  -
длина волны рентгеновского излучения, n - порядок дифракции. Для  кристаллов
кубической сингонии можно записать следующее  соотношение  между  параметром
элементарной  ячейки  и  индексами  Мюллера  и   величиной   межплоскостного
расстояния между сетками, обуславливающими данный рефлекс:
                                         [pic]                         (3.2)
[pic]
Рис.4. Рентгенограмма рефлекса (200) для бесцветного  и  синего  образцов  и
соответствующие им аппроксимированные функцией Гаусса контуры.
[pic]
Рис.3.Обзорная рентгенограмма галита



    Комбинируя данное выражение с условием возникновения рефлекса  при  n=1
получаем:
                                         [pic]                         (3.3)
    Для более точного определения  угла  дифракции  контур  рефлекса  (200)
аппроксимировался функцией Гаусса (рис.4):
                                                [pic]                  (3.4)
где А - площадь под контуром, W - его полуширина, Xc - положение  центра,  X
- текущее значение  угла  2Q.  В  пределах  погрешности  измерений  синяя  и
бесцветная  разности  не  различаются  по  названным  параметрам.  Положение
рефлекса (200) и параметры элементарной ячейки  в  образцах  представлены  в
таблице 1.
                                                                   Таблица 1
   Значения углов  и параметров элементарных ячеек в исследуемых образцах.

|     |      |Синий |      |      |      |прозр |      |      |
|образ|2q,   |d(2q) |a, нм |d(а)  |2q,   |d(2q) |а, нм |d(а)  |
|ец   |гр.   |      |      |      |гр.   |      |      |      |
|Польш|31,697|0,003 |0,564 |0,003 |31,700|0,003 |0,564 |0,003 |
|а    |      |      |      |      |      |      |      |      |
|Сол.1|31,675|0,006 |0,564 |0,004 |31,794|0,006 |0,562 |0,004 |
|Сол.2|31,713|0,006 |0,564 |0,004 |31,694|0,006 |0,564 |0,004 |
|Сол.3|31,688|0,006 |0,564 |0,004 |31,713|0,006 |0,564 |0,004 |
|Сол.4|31,694|0,006 |0,564 |0,004 |31,813|0,006 |0,562 |0,004 |


    Полученные значения параметров  элементарных  ячеек  во  всех  образцах
совпадают с литературным значением а=0,564 нм. Наличие структурных  дефектов
в  образцах  синей  соли,  являющихся  ответственными  за  окрашивание,   не
сказывается на параметрах элементарных ячеек.

                        3.3. Примесной состав галита

   Для определения примесных  химических  элементов  в  образцах  (синем  и
прозрачном) галита из Соликамска и Польши  использовался  полуколичественный
спектральный эмиссионный  анализ.  Пластинки  синей  и  прозрачной  разности
после обогащения  дробились,  а  затем  измельчались  в  яшмовой  ступке  до
состояния слипающейся пудры.  Слипающаяся  пудра  растиралась  дополнительно
около  15  минут   для   наиболее   полного   и   тщательного   измельчения.
Полуколичественный   спектральный   анализ    проводился    в    лаборатории
спектрального анализа.
   Результаты анализа проиллюстрированы в таблице 2. Соль из  Польши  имеет
значительно меньшее количество примесей в сравнении с  солью  Соликамска.  В
синей разности Польского образца примесей  в  несколько  раз  меньше  чем  в
прозрачной. Однако в образцах из Соликамска подобное наблюдается не  всегда.
В основном синяя соль чище, чем прозрачная.
   Из примесных химических элементов, обнаруженных в исследуемых  образцах,
наибольший вклад в суммарную концентрацию несут такие элементы как:  Si-0,25
г/т в образце Соликамск1, Mg-0,15 г/т в Соликамске4, Ti-0,025 г/т и  La-0,02
г/т в Соликамске2. Других элементов, концентрации  которых  возможно  внесли
бы более весомый вклад в сумму  концентраций  примеси,  проведенным  методом
обнаружено  не  было.  В  заметке  П.Н.Чирвинского  о  синей  каменной  соли
Соликамского месторождения [14], можно найти результат анализа  синей  соли:
NaCl - 98.17, KCl+RbCl  -  0.54,  MgCl2  0.07.  Из  этого  результата  можно
почерпнуть наличие  рубидия  и  калия,  радиоактивные  долгоживущие  изотопы
которых могли быть теми элементами, излучение которых в течение  длительного
времени, привело к образованию центров окраски - F-агрегатных центров.
                                                                   Таблица 2
    Концентрация примесных химических элементов в г/т в образцах соли из
                            Соликамска и Польши.

|   |Синяя соль                      |Бесцветная соль                 |
|   |Польш|Сол-с|Сол-с|Сол-с|Сол-с|Польш|Сол-с|Сол-с|Сол-с|Сол-c|
|   |а    |к1   |к2   |к3   |к4   |а    |к1   |к2   |к3   |к4   |
|Mn |-----|-----|-----|<0.00|-----|0,001|-----|<0,00|<0.00|<0,00|
|   |     |     |     |02   |     |     |     |02   |02   |02   |
|Mo |-----|0,000|-----|-----|-----|0,000|0,000|0,000|-----|-----|
|   |     |1    |     |     |     |1    |1    |1    |     |     |
|Cu |-----|0,000|-----|-----|-----|0,001|-----|0,000|0,000|<0,00|
|   |     |1    |     |     |     |     |     |4    |2    |01   |
|Zn |-----|0,025|0,008|0,009|0,008|-----|0,004|0,005|0,009|0,004|
|Ti |0,002|0,025|0,009|0,01 |0,01 |0,01 |0,002|0,015|0,015|0,009|
|Zr |-----|<0,00|-----|-----|<0,00|-----|<0,00|<0,00|<0,00|<0,00|
|   |     |1    |     |     |1    |     |1    |1    |1    |1    |
|Mg |0,004|0,02 |0,02 |0,04 |0,02 |0,01 |0,015|0,04 |0,15 |0,03 |
|Si |-----|0,25 |0,009|0,04 |0,02 |-----|0,009|0,1  |0,1  |0,02 |
|Al |0,001|0,015|0,001|0,004|0,004|0,01 |0,004|0,015|0,009|0,004|
|Fe |-----|0,002|0,001|0,002|0,000|-----|0,001|0,008|0,002|0,002|
|   |     |5    |     |5    |9    |     |     |     |5    |5    |
|Ca |-----|<0,00|<0,00|<0,00|<0,00|-----|0,008|0,008|0,008|<0,00|
|   |     |8    |8    |8    |8    |     |     |     |     |8    |
|Sr |0,001|<0,00|<0,00|<0,00|<0,00|0,001|0,002|0,002|0,001|0,001|
|   |     |1    |1    |1    |1    |     |     |     |     |     |
|Ba |0,001|0,002|0,002|0,002|0,002|0,001|0,002|0,002|0,002|0,002|
|Y  |-----|<0,00|-----|-----|-----|-----|-----|-----|-----|-----|
|   |     |2    |     |     |     |     |     |     |     |     |
|La |<0,00|0,02 |0,004|0,008|0,004|0,004|<0,00|0,009|0,009|0,004|
|   |4    |     |     |     |     |     |4    |     |     |     |
|S  |0,01 |0,4  |0,05 |0,12 |0,07 |0,04 |0,05 |0,2  |0,3  |0,08 |


                  3.4. Спектроскопия оптического поглощения
      3.4.1. Аппаратура, используемая для получения спектров поглощения

      Для  получения  спектров  оптического  поглощения  применяется  прибор
SPECORD UV VIS - автоматический регистрирующий  двухлучевой  спектрофотометр
для абсорбционных измерений в ультрафиолетовой и видимой  зонах  спектра.  В
качестве  приемника  излучения  применяется   фотоумножитель,   на   который
попеременно падают световой поток сравнения и  световой  поток,  ослабленный
исследуемой пробой. После усиления сигнал в  виде  спектра  отображается  на
ленте самописца или накапливается на магнитном носителе управляющей ЭВМ.
      Для измерения спектров оптического поглощения были использованы  синие
и прозрачные пластинки образцов галита толщиной от 0,5 до 2,5 мм и  площадью
около 3 см2. Из одной пробы было приготовлено по несколько  пластин.  Съемка
спектров  поглощения  производилась  с   записью   на   магнитный   носитель
компьютером ДВК 4, в режиме  измерения  оптической  плотности.  Спектральные
массивы  в  дальнейшем  обрабатывались  на  компьютере  IBM  с   применением
специальных программ построения спектра и стандартных программ  типа  Origin
и Excel. Они пересчитывались в коэффициенты  поглощения  k  (мм-1).  Спектры
оптического поглощения всех пластин представлены на рис.1 Приложения.
                      2. Спектры оптического поглощения

                     и центры окраски в природном галите

    Спектры синей и бесцветной соли, полученные на различных пластинках  из
цветовых разностей одного образца, для дальнейшего анализа  были  усреднены.
Они отдельно представлены на рис.5. В образце Соликамск4 присутствовали  две
сильно отличные синие разности. Первая имеет светло-голубую окраску,  вторая
имеет  темно-синюю,  насыщенную  окраску.  Основную  массу  образца  слагает
первая разность, вторая находится в виде вкраплений.  Для  данных  разностей
приведены отдельные спектры. Из спектров видно, что все  окрашенные  образцы
имеет  подобные  многокомпонентные  спектры.  Спектры  прозрачных   образцов
максимумов не имеют - коэффициент  поглощения  в  них  плавно  возрастает  в
высокоэнергетической области спектра, соответствующей  УФ  области  спектра.
Этот подъем обусловлен рэлеевским рассеянием, интенсивность которого  растет
пропорционально l-4.

                                [pic]   [pic]
Рис.5. Все разновидности спектров оптического поглощения образцов из
Соликамска и Польши.

   Для получения спектрального состава поглощения в синей
12345След.
скачать работу

Оптические инструменты, вооружающие глаз

 

Отправка СМС бесплатно

На правах рекламы


ZERO.kz
 
Модератор сайта RESURS.KZ