Главная    Почта    Новости    Каталог    Одноклассники    Погода    Работа    Игры     Рефераты     Карты
  
по Казнету new!
по каталогу
в рефератах

Структура и адгезионные свойства отверждённых эпоксидных смол

вная диафрагма:            |
|3—стигматор;                                             |
|4— отклоняющие катушки для сканирования                  |

      Чтобы получить информацию о микроструктуре достаточно большой области,
которая представляла бы характерную  структуру  объекта,  ответственную  за
интересующие нас макроскопические  физические  или  механические  свойства,
зонд заставляют обегать (сканировать) заданную площадь объекта по  заданной
программе (движется луч по строчкам, образующим квадрат, круг и т. д.)[8].
      Масштаб изображения  на  экране  катодно-лучевой  трубки  определяется
отношением   размера   сканирования  на  поверхности   объекта   и   размера
изображения (растра) на  экране.  Уменьшение  размера  участка  сканирования
приводит  к  росту   увеличения   изображения.   Предельные   увеличения   в
современных   конструкциях   РЭМ   достигают   150000—200000.    Разрешающая
способность  зависит  от  вида  используемого  сигнала   и   вида   объекта.
Наименьшие значения  разрешаемого  расстояния  70—100  Е  при  использовании
эффекта эмиссии вторичных  электронов.  При  любом  виде  используемого  для
выявления микроструктуры сигнала характерным  является  чрезвычайно  большая
глубина   резкости   вследствие   очень   малой    апертуры    (практически,
параллельности) электронного  зонда.  Глубина  резкого  изображения  объекта
оказываем всегда не меньшей, чем размер изображаемого участка  в  плоскости.
Если  линейный  размер  экрана  около  100  мм,  то  при  увеличении   10000
изображаемое поле объекта  (10  мкм,  примерно  такой  же  будет  и  глубина
резкого изображения объекта ((1  мкм)[1].  Устройство  электронно-оптической
части и камеры объекта РЭМ типа «Стереоскан» показаны на рис. 23 б.

   3. Применение растровой электронной микроскопии в исследованиях
      адгезионных соединений

      Растровая электронная микроскопия нашла применение при исследовании
адгезионных соединений. С помощью РЭМ изучают характер разрушения
адгезионных систем (адгезионный, когезионный  или смешанный), поверхности
субстратов, швы клеевых соединений, прорастание трещин в материалах. Вся
эта информация необходима при анализе адгезионных соединений.
      Ниже приведены электронно-микроскопические снимки, полученные
растровым электронным микроскопом:
                                    [pic]

      Рис. 21. Разрушение адгезионных соединений эпоксидное связующее —
                высокопрочное органическое волокно ВНИИВЛОН:
  а — конец волокна, выдернутого из соединения; б — отверстие в смоле после
                            выдергивания волокна

                                    [pic]
              Рис.22. Вид моноволокна после отслоения от резины


                                    [pic]
            Рис.23. Поперечный срез клеевого соединения древисины

                                    [pic]
                     Рис. 24. Поперечные срезы волокон:
             а- вискозное, б- высокопрочное вискозное, в- капрон
Пред.11121314
скачать работу

Структура и адгезионные свойства отверждённых эпоксидных смол

 

Отправка СМС бесплатно

На правах рекламы


ZERO.kz
 
Модератор сайта RESURS.KZ