Главная    Почта    Новости    Каталог    Одноклассники    Погода    Работа    Игры     Рефераты     Карты
  
по Казнету new!
по каталогу
в рефератах

Оптические инструменты, вооружающие глаз

ции галита

    Для того, чтобы получить детальную картину разгорания  рекомбинационной
люминесценции  F-центров  в  кристаллах  галита,  были  проведены  следующие
эксперименты.  Рентгенолюминесцентная  установка  регистрировала   изменение
интенсивности  излучения  в  полосе  390  нм  по  мере  экспозиции   образца
рентгеновским излучением.  При  этом  на  ленте  самописца  регистрировалась
кривая  разгорания  РЛ.  В  результате  зарегистрированы  монотонные  кривые
разгорания, аналогичные показанным на рис. 17.
[pic][pic]
Рис. 17. Кривые разгорания РЛ  в  монокристаллах  польской  соли  (слева)  и
сопоставление  кривых  разгорания   в   монокристаллическом   и   порошковом
препаратах прозрачной польской соли (справа). Маркеры - значения,  снятые  с
экспериментальных кривых разгорания, кривые -  аппроксимация  теоретическими
зависимостями.

    Как уже отмечалось, кривые разгорания  РЛ  в  порошке  и  монокристалле
сильно  различаются  (рис.17).  В  начальный  момент  времени  для  порошков
характерна  более  высокая  интенсивность   рекомбинационной   люминесценции
нежели, чем в монокристалле.  Но  в  дальнейшем  их  интенсивности  свечения
выравниваются.

                      3. Кинетика накопления F-центров

   Кинетика   накопления   F-центров   в   кристаллах   щелочных   галоидов
рассматривается  во  многих  работах.  Например,  в   [24]   рассматривается
кинетика разгорания люминесценции различных  электронно-дырочных  центров  с
учетом  процессов  перезахвата  свободных  носителей  заряда  конкурирующими
ловушками   электронов   и   дырок.   Наличие   в   кристалле    предцентров
постулируется. В  монографии  К.  Пшибрама  [11]  рассматриваются  различные
модели накопления F-центров  в  щелочных  галоидах,  в  которых  учитываются
электронно-дырочные процессы, происходящие в кристаллах под действием  b-  и
g-радиации и возможность радиационного  отжига  потенциальных  центров.  При
рентгеновском  облучение  в  галите  возможно   как   образование,   так   и
рекомбинация предцентров.  Кроме  того,  в  изучаемых  кристаллах  некоторые
следы агрегатных F-центров начинают появляться только после  больших  времен
рентгеновской экспозиции  кристаллов,  поэтому  такими  каналами  уменьшения
концентрации  F-центров  можно  пренебречь,  что  значительно  упростит  вид
теоретических зависимостей.
    Кинетику образования F-центров рассмотрим в  рамках  следующей  простой
модели. Процесс образования F-центров должен учитывать образование  вакансий
Cl,  их  рекомбинацию,  захват  вакансией  электронов  зоны  проводимости  с
образованием F-центров и их рекомбинацию с дырками  валентной  зоны  в  поле
рентгеновского излучения. Опишем сначала процесс образования вакансий  Cl  -
потенциальных F-центров. Допустим,  что  скорость  образования  вакансий  Cl
-пропорциональна мощности потока рентгеновского излучения - D.  Скорость  их
рекомбинации пропорциональна числу  имеющихся  вакансий  N,  умноженному  на
вероятность рекомбинации R. Тогда скорость накопления вакансий  запишется  в
виде дифференциального уравнения:
                               [pic].                                  (3.8)
    Если принять, что до облучения  в  кристалле  присутствовало  N(t=0)=N0
вакансий, а в стационарном состоянии  N(t®Ґ)=NҐ=D/R,  то  получим  следующее
решение (3.8):
                                     [pic].                            (3.9)
[pic]
Рис.18. Энергетическая  схема  кристалла  NaCl  с   примесными  уровнями  F-
центров.
    Теперь рассмотрим собственно процесс  образования  F-центров  (рис.18).
Под  действием  радиации  в  кристалле  с  вероятностью  g  образуются  пары
свободных электронов  и  дырок.  В  кристалле  имеется  N  потенциальных  F-
центров. С вероятностью a электрон захватывается предцентром с  образованием
F-центра, их  текущая  концентрации  -  n.  Скорость  их  образования  будет
пропорциональна a*N. С вероятностью b происходит  рекомбинация  захваченного
электрона с дыркой, скорость этого процесса b*n. Возможностью  агрегатизации
F-центров пренебрегаем. Изменение  количества  F-центров  запишется  в  виде
дифференциального уравнения:
                                   [pic].                             (3.10)
    После подстановки (3.9) имеем:
                                                   [pic].             (3.11)
    В исходных кристаллах независимо от их окраски  концентрация  F-центров
близка к нулю, т. к. их полоса поглощения в оптических спектрах  практически
отсутствует. С учетом этого решение уравнения (3.11) запишется в виде:
                                                   [pic].             (3.12)
    В стационарном состоянии (t®Ґ) n=nҐ=NҐa/b.  Рассмотрим  частные  случаи
решения.
Качественные кристаллы  без  вакансий,  N0=0.  Если  принять,  что  скорость
рекомбинации потенциальных центров гораздо  ниже  скорости  рекомбинации  F-
центров (R<>1, (R<
Пред.678
скачать работу

Оптические инструменты, вооружающие глаз

 

Отправка СМС бесплатно

На правах рекламы


ZERO.kz
 
Модератор сайта RESURS.KZ